Produktdetails:
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Oberfläche: | Optischer Grad | Übertragung: | > 90 % |
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Beschichtung: | Erhältlich | Verarbeitung: | Polstern |
Anwendung: | Optik und Laser | OEM-Produkte: | Erhältlich |
Hervorheben: | mit einer Breite von mehr als 20 mm,mit einer Breite von nicht mehr als 30 mm,Inspektionssysteme Optische Glassubstrate |
Antireflexive Beschichtung optischer Glassubstrate für Inspektionssysteme
Material:
Basissubstrat: Hochpräzisions-Borosilikatglas (z. B. Borofloat 33) oder geschmolzenes Kieselsäure, ausgewählt für außergewöhnliche Flachheit, thermische Stabilität und chemische Beständigkeit.
Beschichtungstechnik: Mehrschichtdielektrische Beschichtungen (z. B. MgF2, SiO2, Ta2O5) durch Präzisionsmagnetron-Sputtering oder Dampfdeposition.
Konstruktionsarten: Anpassbar als Breitband-AR (sichtbares NIR-Spektrum) oder V-Beschichtung (Optimierung für eine Wellenlänge).
Schlüsselmerkmale:
Ultra-niedrige Reflexionsfähigkeit: Erreicht <0,5% Oberflächenreflexionsfähigkeit (gegenüber 4-8% für unbeschichtetes Glas), wodurch der Lichtdurchsatz maximiert wird.
Hohe Übertragungseffizienz: Lieferung von >99,5% Lichtübertragung in Zielwellenlängen und Minimierung des Signalverlustes.
Winkelstabilität: Beibehält die Leistung bei Einschlagwinkeln von 0-45°, die für die schräge Bildgebung kritisch sind.
Umweltverträglichkeit: Widerstandsfähig gegen Delamination, Feuchtigkeit und UV-Abbau bei Dauerbetrieb.
Oberflächenqualität: Sub-Ångstrom-Rohheit (< 5Å Ra) verhindert Lichtstreuung.
Thermische und chemische Widerstandsfähigkeit: Widerstandsfähig gegen Reinigungslösungsmittel und thermische Zyklen (-60 °C bis +300 °C).
Hauptfunktion:
Um abweichende Reflexionen zu beseitigen und den Kontrast in hochpräzisen optischen Inspektionssystemen zu maximieren.
Minimiert Geisterbilder und Flammen, die durch Oberflächenreflexionen verursacht werden.
Verbessert das Signal-Rausch-Verhältnis für eine genaue Fehlererkennung.
Bewahrt die Lichtintensität über komplexe optische Pfade.
Hauptanwendungen in Kontrollsystemen:
Halbleitermetrologie:
Waferfehler-Scanner
EUV-Lithographie-Überprüfungsoptik
Masken-Ausrichtungssysteme
Automatische optische Inspektion (AOI):
Prüfung der PCB-Montage
Fehlererkennung der Anzeigetafel (OLED/LCD)
Biomedizinische Bildgebung:
Mikroskopziele für die Pathologie
Durchflusszytometrie-Linsen
Industrielle Sehsysteme:
Sensoren für die Laser-Triangulierung
Maschinelle Sichtlinsen für Montagelinien
Luft- und Raumfahrt-Forschung und Prüfung:
Ultraschallsondefenster
Endoskopoptik zur Inspektion von Turbinen
Photonikprüfung:
mit einer Breite von mehr als 20 mm
Spektrometerfenster
Im Wesentlichen:mit einer Breite von mehr als 20 mm,sind präzise konstruierte Bauteile, die Reflexionsgenauigkeitsprobleme in kritischen Inspektionssystemen lösen.Durch Anwendung fortschrittlicher mehrschichtiger dielektrischer Beschichtungen auf ultraflache Borosilikat- oder geschmolzenes Kieselsäure-Substrate, erreichen sie eine nahezu unsichtbare Oberflächenleistung (< 0,5% Reflexionsfähigkeit), wodurch Fehler auf Mikron-/Submikron-Skalen erkannt werden können.Diese Substrate verbessern direkt die Zuverlässigkeit der Halbleitermesstechnik, AOI-Ausrüstung und biomedizinische Bildgebungswerkzeuge, bei denen jedes Photon zählt.
Name | Glasscheibe, Glaswafer, Glassubstrat, Sichtglas |
Ausgefüllt | |
Durchmesser Toleranz | +0/-0,2 mm |
Ausmaß der Abweichung | +/- 0,2 mm |
Verarbeitet | Durch Schneiden, Schleifen, Polieren |
Betriebstemperatur | Widerstandsfähig gegen Hochtemperaturschläge |
Oberflächenqualität | 80/50,60/40,40/20 |
Materialqualität | Keine Kratzer und keine Luftblasen |
Übertragung | > 90% für sichtbares Licht |
Schaum | 0.1-0.5 mm x 45 Grad |
Oberflächenbeschichtung | Erhältlich |
Gebrauch | Fotografie, Beleuchtungssystem, Industriegebiet. |
Ansprechpartner: Mr. Dai
Telefon: +86-13764030222
Faxen: 86-21-58508295